11月5日下午，上海易微科技有限公司李金树经理来校交流德国最新推出的SEM微纳米操纵仪应用及扫描探针-透射电镜（SPM-TEM）原位力学-电学测量表征系统，有关方向的师生听取了李经理的讲座。讲座中李金树经理介绍了在SEM电镜及透射电镜高真空下两款新型的微纳操纵仪的工作原理及应用。SEM电镜的纳米操纵仪，在扫描电镜观察操纵过程中，可以拨动、搬移、旋转、以及进行力学测量。运用TEM纳米操纵仪，实现了TEM中的原位操纵，通过压电陶瓷驱动，在三个方向上可以移动透射电镜样品，移动精度在轴向可以达到0.001nm，X，Y方向可以到0.02nm。可以对研究的透射电镜样品施加外力，并结合透射电镜成镜，实时测量力—时间，力—位移曲线以及结构随力变化的情况。可以对样品施加外电压，从而测量纳米材料的电学特性。由于这一样品操纵分析系统的研发成功，完全改变了过去电镜工作者在样品观察过程中的被动局面，从而实现了原位操纵，开辟了全新的研究领域。