题目：X射线荧光光谱和电子探针分析的应用及其最近技术进展

时间：4月15日周五上午10：30

地点：格致楼3022室

报告人：安国玉 高工

岛津国际贸易（上海）有限公司企划部经理，担负新产品研发调研和标准化工作。北京分析测试技术学会光谱学会理事，《现代科学仪器》编委。

1982年-2003年，在煤炭科学研究院煤化学研究所工作；

1992年至今，在岛津国际贸易（上海）有限公司分析中心和企划部工作。

从事X射线荧光光谱、X射线衍射、电子探针微区分析、等离子体发射光谱等测试技术的应用研究和开发。

讲座内容：

波长色散型X射线荧光光谱仪（Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence Spectrometer，下称XRF）是广泛应用于钢铁、有色金属、陶瓷，以及新材料开发等领域进行元素成分分析的仪器，样品可以是固体、粉末、熔融片，薄膜、液体等，具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。先进的XRF可对多层薄膜进行分析，并获得薄膜上不同元素分布的信息。 电子探针（Electron Probe Micro- analysis）利用高能聚焦电子束（典型的电子束直径为1?m）照射试样的表面，从而在微米级的区域内激发出大量携带着各种信息的量子信号，可进行形貌观察，以及定性、定量等分析。其能量分辨率和定量准确度远优于能量色散型能谱仪。电子探针在材料研究领域中的微区成分分析、镀层分析、断口分析及显微组织形貌等方面发挥了重要作用。

X射线荧光光谱和电子探针分析在电子陶瓷、磁性材料、半导体材料、金属材料等等诸多新材料领域有广泛应用。本报告将着重介绍其相关应用，突出最近技术进展，欢迎各位老师和同学前来参与讨论。